用途：

此标准参考材料 (SRM) 主要用于在 10 K 至 390 K 的温度范围内校准塞贝克系数测量设备（用于散装材料）。 

规格：

SRM 3451 由一个条形工件（约 3.5 mm × 2.5 mm × 8.0 mm) 的非化学计量碲化铋（n 型，富含 Te，Bi/Te 摩尔比约为 2/3，式 Bi2Te3+x）。

NIST SRM 3451低温Seebeck系数标准(标准品)

认证值和不确定性：

NIST 认证值是 NIST 对其准确性有最高置信度的值，因为所有已知或可疑的偏差来源都已调查或考虑在内 [1]。使用微分稳态 (DC) 技术对 Quantum Design Physical Property 获得认证值测量系统 (PPMS)，可在表 1 中找到。

不确定性分析是根据 ISO 指南 [2] 中包含的建议进行的。与塞贝克系数测量结果相关的不确定性被归类为可以统计评估的成分（A 型）和不能进行统计评估的成分（B 型）。 A 类组件包括样本间变化和非系统电压和/或热偏移，这些组件基于组合的测量系列进行最佳统计处理，而 B 类组件是系统性的，源自仪器、数据采集和温度计由冷热温度和电势的测量引起的校准误差。

为了推导出平均基准温度的塞贝克系数不确定性分量，塞贝克系数数据被参数化，并且该塞贝克系数数据的导数 Sm(T) 乘以基准温度和单个温度的组合不确定度。塞贝克系数的最终组合标准不确定度是组合 A 型和 B 型不确定度分量的平方根和。在正态分布假设下，通过将组合标准不确定性乘以 k = 2，即 Sm ± kσ，获得扩展的不确定性区间。